
近日,国际顶级学术期刊《自然》发表一项重大物理突破——中国科学院大学领衔联合广西大学、华中师范大学等多所高校科研团队协同攻关,首次成功实现了对苏联科学家于80余年前预言的“米格达尔(Migdal)效应”的直接实验观测。这一成果为轻暗物质探测突破阈值瓶颈提供了关键支撑,实现该突破的核心硬件——像素读出芯片Topmetal-II,由华中师范大学PLAC实验室自主研制。我校为该研究的核心合作单位之一,物理科学与技术学院孙向明教授、王东教授和高超嵩教授参与研究,孙向明为共同通讯作者。![图片[2]-重大物理突破!华师协同攻关!-AI Express News](https://www.aiexpress.news/wp-content/uploads/2026/01/20260126000824229-1769357304-44028df5d7a2ddbe04dd22d4449310a5.png)
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米格达尔效应由苏联物理学家阿尔卡季·米格达尔于1939年提出,描述了原子核反冲时通过电场变化将能量转移给核外电子、形成“共顶点”带电径迹的物理过程。这一效应被认为是突破轻暗物质探测阈值的重要路径,但中性粒子碰撞中的该效应长期缺乏直接实验验证,成为制约相关暗物质探测研究的关键瓶颈。
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实验观测记录到的一个米格达尔(Migdal)效应事件
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紧凑型D-D中子发生器、探测器及实验布局
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“微结构气体探测器+像素读出芯片”探测器系统
作为华中师范大学PLAC实验室的核心研发成果,Topmetal系列芯片长期聚焦高能物理探测领域的“卡脖子”技术攻关,已形成从芯片设计、流片验证到系统集成的完整技术体系。此次Topmetal-II像素读出芯片通过高分辨率像素阵列实时捕捉传输微弱信号,结合专用数据处理算法,从近百万条记录事件中筛选出6个明确的米格达尔候选事件,以5个标准差的统计显著性证实该效应存在,测得的米格达尔截面与核反冲截面比值与理论预测高度吻合,该芯片在米格达尔效应观测中的成功应用,验证了其在极端微弱信号探测场景下的可靠性与先进性,彰显了我国在高端探测芯片领域的自主创新能力。
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华师PLAC实验室像素读出芯片Topmetal-II
孙向明表示:“芯片是高端探测装备的‘心脏’,团队将以此次突破为契机,持续深化Topmetal系列芯片的技术迭代,进一步提升芯片的抗辐照性能、能量分辨率与集成度,为下一代暗物质探测实验、高能物理实验及核医疗影像等领域提供更具竞争力的核心器件支持,助力我国在基础物理研究与先进探测技术领域实现从'跟跑'到'领跑'的跨越。”


<原文链接:https://mp.weixin.qq.com/s/P5c7Fz2ClDpmwZJabKJmXg







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